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孔径测量

更新时间：2023-09-18

 

简要描述：

孔径测量，可以用于检定ASME X，XX，XXX级精度的环规，相当于可以检定国内二等环规。 通过一整套完善的量值传递机构可以快速精确的找到环规的直径拐点，这其中其大作用的是两只消除了摩擦力影响的位移传感器。

 

孔径测量

 

这是一台在很多校准实验室采用的标定环规的计量设备，由于其*的设计和可靠的表现至今没有被其他产品代替。可以用于检定ASME X，XX，XXX级精度的环规，相当于可以检定国内二等环规。 通过一整套完善的量值传递机构可以快速精确的找到环规的直径拐点，这其中其大作用的是两只消除了摩擦力影响的位移传感器。孔径测量这是一台可以测量百万分之一级内外尺寸的仪器，同时可以用来测量一些高精度的盘类零件。

 

孔径测量技术描述

 

测量范围: 内尺寸: 300mm，外尺寸：279mm

 

重复精度; ±0.025µm

 

测头量程: ±40µm

 

示值误差：0.25%量程

 

测头材料：金刚石

 

重量:306kg

 

仪器高度：1422mm

 

工作台尺寸：279mm x 406mm

 

占地尺寸：406mm x 508mm

 

数字输出接口RS232C

 

电源：230V±10%   50-60Hz

 

了解更多：http://www.dailyaid.cn/Products-32714035.html

https://www.chem17.com/st410881/product_32714035.html

原文链接：http://www.tyw.net.cn/chanpin/show-67348.html，转载和复制请保留此链接。
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